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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品型號(hào):ED400

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

ED400 涂層測(cè)厚儀渦流測(cè)厚儀ED400是ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型,ED400性能大幅度提升,專業(yè)銷售各類渦流測(cè)厚儀并負(fù)責(zé)儀器的售后與維修,多年銷售經(jīng)驗(yàn)積累為您提供高效優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

產(chǎn)品特性Product characteristics

ED400 涂層測(cè)厚儀

渦流測(cè)厚儀ED400ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
      

便攜式ED400渦流測(cè)厚儀(也稱涂層測(cè)厚儀、氧化膜測(cè)厚儀)適用于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測(cè)厚儀ED400采用磁性測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如:鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如:鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等),本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
  渦流測(cè)厚儀ED400適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
 儀器特點(diǎn)
  渦流測(cè)厚儀ED400ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
*量程寬   ED400量程達(dá)到0~500μm。
*精度高   ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
*分辨率高   ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
*校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
*基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不大于1~2μm。
*可靠性提高    渦流測(cè)厚儀ED400采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性顯著提高。
*穩(wěn)定性提高   采用*溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
*探頭線壽命長(zhǎng)   采用德國(guó)進(jìn)口的,在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。
*探頭芯壽命長(zhǎng)    采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
*探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
渦流測(cè)厚儀ED400技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍:     0~500μm
測(cè)量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分辨率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     260g

渦流測(cè)厚儀ED400配置與選配:

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)            1臺(tái)
探頭            1支
基體            1塊(6063合金)
校正箔片      1片(約50μm,附檢測(cè)報(bào)告)
使用說明書   1份
合格證         1份
保修單         1份   
手提式儀器箱1個(gè)

 可選附件

備用探頭
基體
校正箔片(約50μm,附檢測(cè)報(bào)告)

  

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